Внутрисхемное тестирование цифровых электронных компонентов практикум
В практикуме рассматриваются основные приемы внутрисхемного тестирования цифровых электронных компонентов, приводятся задания по темам лабораторных работ. Издание предназначено для студентов, обучающихся по направлению 09.03.01 «Информатика и вычислительная техника» (профиль «Вычислительные машины,...
Сохранить в:
格式: | Книга |
---|---|
主题: | |
在线阅读: | Перейти к просмотру издания |
标签: |
添加标签
没有标签, 成为第一个标记此记录!
|