Основы радиационной стойкости изделий электронной техники: радиационные эффекты в изделиях электронной техники учебное пособие
Учебное пособие посвящено вопросам деградации полупроводниковых приборов и интегральных схем вследствие дефектов, образующихся при воздействии космической радиации. Рассмотрены следующие вопросы: радиационные условия в космосе; влияние радиационно-индуцированных структурных повреждений на свойства п...
Сохранить в:
| Главный автор: | |
|---|---|
| Формат: | Книга |
| Темы: | |
| Online-ссылка: | Перейти к просмотру издания |
| Метки: |
Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|
| LEADER | 04052nam0a2200385 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | RU/IPR SMART/98096 | ||
| 856 | 4 | |u https://www.iprbookshop.ru/98096.html |z Перейти к просмотру издания | |
| 801 | 1 | |a RU |b IPR SMART |c 20250903 |g RCR | |
| 010 | |a 978-5-87623-661-6 | ||
| 205 | |a Основы радиационной стойкости изделий электронной техники: радиационные эффекты в изделиях электронной техники |b 2025-12-16 | ||
| 333 | |a Гарантированный срок размещения в ЭБС до 16.12.2025 (автопролонгация) | ||
| 100 | |a 20250903d2013 k y0rusy01020304ca | ||
| 105 | |a y j 000zy | ||
| 101 | 0 | |a rus | |
| 102 | |a RU | ||
| 200 | 1 | |a Основы радиационной стойкости изделий электронной техники: радиационные эффекты в изделиях электронной техники |e учебное пособие |f К. И. Таперо, С. И. Диденко | |
| 700 | 1 | |a Таперо, |b К. И. |4 070 | |
| 701 | 1 | |a Диденко, |b С. И. |4 070 | |
| 330 | |a Учебное пособие посвящено вопросам деградации полупроводниковых приборов и интегральных схем вследствие дефектов, образующихся при воздействии космической радиации. Рассмотрены следующие вопросы: радиационные условия в космосе; влияние радиационно-индуцированных структурных повреждений на свойства полупроводников; деградация кремниевых приборов и микросхем вследствие радиационных эффектов при воздействии ионизирующих излучений космического пространства; влияние радиационно-индуцированных структурных повреждений на деградацию изделий оптоэлектроники; особенности испытаний изделий электронной техники и радиоэлектронной аппаратуры на стойкость к воздействию ионизирующих излучений космического пространства. Предназначено для бакалавров и магистров, обучающихся по направлению 210100 «Электроника и наноэлектроника», а также студентов, обучающихся по специальности «Микроэлектроника и твердотельная электроника». Будет полезно специалистам, работающим в области конструирования изделий полупроводниковой электроники и технологии их изготовления, а также обеспечения надежности и радиационной стойкости комплектующих элементов и аппаратуры. | ||
| 210 | |a Москва |c Издательский Дом МИСиС |d 2013 | ||
| 610 | 1 | |a электронная техника | |
| 610 | 1 | |a интегральная схема | |
| 610 | 1 | |a полупроводник | |
| 610 | 1 | |a космическая радиация | |
| 610 | 1 | |a ионизирующее излучение | |
| 610 | 1 | |a оптоэлектроника | |
| 675 | |a 62 | ||
| 686 | |a 32.85 |2 rubbk | ||
| 300 | |a Книга находится в премиум-версии IPR SMART. | ||
| 106 | |a s | ||
| 230 | |a Электрон. дан. (1 файл) | ||
| 336 | |a Текст | ||
| 337 | |a электронный | ||
| 503 | 0 | |a Доступна эл. версия. IPR SMART | |
| 215 | |a 349 с. | ||