Пропуск в контексте

Дифракционные и микроскопические методы и приборы для анализа наночастиц и наноматериалов учебное пособие

В учебном пособии рассмотрены физические основы методов и аппаратура для проведения рентгеноструктурного, электроно- и нейтронографического анализов, просвечивающей электронной микроскопии, растровой электронной микроскопии и рентгеноспектрального микроанализа, позволяющие исследовать химический сос...

Полное описание

Сохранить в:
Библиографические подробности
Главный автор: Векилова, Г. В. (070)
Формат: Книга
Темы:
Online-ссылка:Перейти к просмотру издания
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!