Пропуск в контексте

Дифракционные и микроскопические методы и приборы для анализа наночастиц и наноматериалов учебное пособие

В учебном пособии рассмотрены физические основы методов и аппаратура для проведения рентгеноструктурного, электроно- и нейтронографического анализов, просвечивающей электронной микроскопии, растровой электронной микроскопии и рентгеноспектрального микроанализа, позволяющие исследовать химический сос...

תיאור מלא

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Векилова, Г. В. (070)
פורמט: Книга
נושאים:
גישה מקוונת:Перейти к просмотру издания
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!