コンテンツを見る

Дифракционные и микроскопические методы и приборы для анализа наночастиц и наноматериалов учебное пособие

В учебном пособии рассмотрены физические основы методов и аппаратура для проведения рентгеноструктурного, электроно- и нейтронографического анализов, просвечивающей электронной микроскопии, растровой электронной микроскопии и рентгеноспектрального микроанализа, позволяющие исследовать химический сос...

詳細記述

保存先:
書誌詳細
第一著者: Векилова, Г. В. (070)
フォーマット: Книга
主題:
オンライン・アクセス:Перейти к просмотру издания
タグ: タグ追加
タグなし, このレコードへの初めてのタグを付けませんか!