Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия курс лекций
В курсе лекций изложены основы динамической теории, геометрические аспекты формирования изображений и основные положения дифракционной теории формирования контраста на дефектах в разных схемах дифракции: схема отражения по Брэггу и Лауэ. Приведен качественный анализ характера контраста на дефектах р...
में बचाया:
| मुख्य लेखक: | |
|---|---|
| स्वरूप: | Книга |
| विषय: | |
| ऑनलाइन पहुंच: | Перейти к просмотру издания |
| टैग : |
टैग जोड़ें
कोई टैग नहीं, इस रिकॉर्ड को टैग करने वाले पहले व्यक्ति बनें!
|