Основные методы анализа цифровых и аналоговых микросхем в радиоэлектронной промышленности
В связи с повсеместным развитием полупроводникового производства остро встает вопрос повышения производительности процессов. Так как одним из основных процессов при производстве любых электронных устройств является их тестирование, то одна из основных задач состоит в сокращении времени на проведение...
Bewaard in:
| Hoofdauteurs: | , |
|---|---|
| Formaat: | Статья |
| Taal: | Russian |
| Gepubliceerd in: |
2019
|
| Onderwerpen: | |
| Online toegang: | https://dspace.ncfu.ru/handle/20.500.12258/10074 |
| Tags: |
Voeg label toe
Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!
|