Основные методы анализа цифровых и аналоговых микросхем в радиоэлектронной промышленности
В связи с повсеместным развитием полупроводникового производства остро встает вопрос повышения производительности процессов. Так как одним из основных процессов при производстве любых электронных устройств является их тестирование, то одна из основных задач состоит в сокращении времени на проведение...
Uloženo v:
| Hlavní autoři: | , |
|---|---|
| Médium: | Статья |
| Jazyk: | Russian |
| Vydáno: |
2019
|
| Témata: | |
| On-line přístup: | https://dspace.ncfu.ru/handle/20.500.12258/10074 |
| Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!
|