Influence of coating thickness on the microstructure, composition and optical properties of aluminum nitride thin films grown on silicon substrates via low-temperature PEALD
Within the framework of the study, fine-grained nanocrystalline aluminum nitride films were obtained using the PEALD method at the temperature of 250 degrees C and the number of deposition cycles from 80 to 500 on single-crystal silicon substrates. Low-temperature synthesis processes were carried ou...
Zapisane w:
Główni autorzy: | , , , , , , , |
---|---|
Format: | Статья |
Język: | English |
Wydane: |
Elsevier Ltd
2021
|
Hasła przedmiotowe: | |
Dostęp online: | https://dspace.ncfu.ru/handle/20.500.12258/18458 |
Etykiety: |
Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
|