THE GROWTH OF INALN/ SI HETEROSTRUCTURES WITH A HIGH CONTENT OF IN
InAlN films on Si (111) were obtained by the ion-beam deposition with various technological growth parameters. The results of the study of grown films by the scanning electron microscopy were used to identify the conditions for obtaining InAlN continuous films. Due to the mismatch of the lattice par...
Збережено в:
Автори: | Lapin, V. A., Лапин, В. А., Kasyanov, I. V., Касьянов, И. В. |
---|---|
Формат: | Статья |
Мова: | Russian |
Опубліковано: |
2023
|
Предмети: | |
Онлайн доступ: | https://dspace.ncfu.ru/handle/20.500.12258/23455 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Схожі ресурси
-
Features of ion-beam polishing of the surface of sapphire
за авторством: Sysoev, I. A., та інші
Опубліковано: (2018) -
Ion-beam deposition of thin AlN films on Al2O3 substrate
за авторством: Devitsky, O. V., та інші
Опубліковано: (2020) -
Influence of thermal annealing on the structure and optical properties of thin aluminum nitride films on sapphire
за авторством: Devitsky, O. V., та інші
Опубліковано: (2021) -
Investigation of GexSi1 –x/Si nanoheterostructures grown by ion-beam deposition
за авторством: Sysoev, I. A., та інші
Опубліковано: (2019) -
Pulsed magnetron sputtering and ion-induced annealing of carbon films
за авторством: Shevchenko, E. F., та інші
Опубліковано: (2018)