Անցեք բովանդակությանը

Calculation of the Schottky barrier and current–voltage characteristics of metal–alloy structures based on silicon carbide

A simple but nonlinear model of the defect density at a metal–semiconductor interface, when a Schottky barrier is formed by surface defects states localized at the interface, is developed. It is shown that taking the nonlinear dependence of the Fermi level on the defect density into account leads to...

Ամբողջական նկարագրություն

Պահպանված է:
Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակներ: Altukhov, V. I., Алтухов, В. И., Kasyanenko, I. S., Касьяненко, И. С., Sankin, A. V., Санкин, А. В.
Ձևաչափ: Статья
Լեզու:English
Հրապարակվել է: Maik Nauka-Interperiodica Publishing 2018
Խորագրեր:
Առցանց հասանելիություն:https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-84986192894&origin=resultslist&sort=plf-f&src=s&nlo=1&nlr=20&nls=afprfnm-t&affilName=North+caucasus+federal+university&sid=1e7600f256f2f6c480679cbfff85823c&sot=afnl&sdt=sisr&cluster=scopubyr%2c%222016%22%2ct&sl=53&s=%28AF-ID%28%22North+Caucasus+Federal+University%22+60070541%29%29&ref=%28Calculation+of+the+Schottky+barrier+and+current%E2%80%93voltage+characteristics+of+metal%E2%80%93alloy+structures+based+on+silicon+carbide%29&relpos=0&citeCnt=1&searchTerm=
https://dspace.ncfu.ru/handle/20.500.12258/3404
Ցուցիչներ: Ավելացրեք ցուցիչ
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!