توثيق جمعية علم النفس الأمريكية APA (الطبعة السابعة)
Sokolenko, E. V., & Соколенко, Е. В. (2018). Modeling of the influence of defects on the electronic structure of silicon nanoclusters. Maik Nauka Publishing / Springer SBM.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Sokolenko, E. V., و Е. В Соколенко. Modeling of the Influence of Defects on the Electronic Structure of Silicon Nanoclusters. Maik Nauka Publishing / Springer SBM, 2018.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Sokolenko, E. V., و Е. В Соколенко. Modeling of the Influence of Defects on the Electronic Structure of Silicon Nanoclusters. Maik Nauka Publishing / Springer SBM, 2018.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.