Исследование рельефа поверхности полупроводниковой hemt-структуры методом атомно-силовой микроскопии практикум
В пособии описаны физические принципы работы атомно-силового сканирующего зондового микроскопа. Изложена методика анализа топографии поверхности полупроводниковой структуры с использованием контактного способа измерений. Практикум предназначен для студентов дневного отделения магистратуры радиофизич...
Zapisane w:
| 1. autor: | |
|---|---|
| Kolejni autorzy: | , |
| Format: | Книга |
| Język: | Russian |
| Wydane: |
Нижний Новгород
ННГУ им. Н. И. Лобачевского
2014
|
| Dostęp online: | https://e.lanbook.com/book/152815 https://e.lanbook.com/img/cover/book/152815.jpg |
| Etykiety: |
Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
|