Исследование рельефа поверхности полупроводниковой hemt-структуры методом атомно-силовой микроскопии практикум
В пособии описаны физические принципы работы атомно-силового сканирующего зондового микроскопа. Изложена методика анализа топографии поверхности полупроводниковой структуры с использованием контактного способа измерений. Практикум предназначен для студентов дневного отделения магистратуры радиофизич...
Tallennettuna:
| Päätekijä: | |
|---|---|
| Muut tekijät: | , |
| Aineistotyyppi: | Книга |
| Kieli: | Russian |
| Julkaistu: |
Нижний Новгород
ННГУ им. Н. И. Лобачевского
2014
|
| Linkit: | https://e.lanbook.com/book/152815 https://e.lanbook.com/img/cover/book/152815.jpg |
| Tagit: |
Lisää tagi
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!
|
