Исследование рельефа поверхности полупроводниковой hemt-структуры методом атомно-силовой микроскопии практикум
В пособии описаны физические принципы работы атомно-силового сканирующего зондового микроскопа. Изложена методика анализа топографии поверхности полупроводниковой структуры с использованием контактного способа измерений. Практикум предназначен для студентов дневного отделения магистратуры радиофизич...
Gorde:
| Egile nagusia: | |
|---|---|
| Beste egile batzuk: | , |
| Formatua: | Книга |
| Hizkuntza: | Russian |
| Argitaratua: |
Нижний Новгород
ННГУ им. Н. И. Лобачевского
2014
|
| Sarrera elektronikoa: | https://e.lanbook.com/book/152815 https://e.lanbook.com/img/cover/book/152815.jpg |
| Etiketak: |
Etiketa erantsi
Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!
|
