Исследование рельефа поверхности полупроводниковой hemt-структуры методом атомно-силовой микроскопии практикум
В пособии описаны физические принципы работы атомно-силового сканирующего зондового микроскопа. Изложена методика анализа топографии поверхности полупроводниковой структуры с использованием контактного способа измерений. Практикум предназначен для студентов дневного отделения магистратуры радиофизич...
Сохранить в:
| Hovedforfatter: | |
|---|---|
| Andre forfattere: | , |
| Format: | Книга |
| Sprog: | Russian |
| Udgivet: |
Нижний Новгород
ННГУ им. Н. И. Лобачевского
2014
|
| Online adgang: | https://e.lanbook.com/book/152815 https://e.lanbook.com/img/cover/book/152815.jpg |
| Tags: |
Tilføj Tag
Ingen Tags, Vær først til at tagge denne postø!
|