Исследование рельефа поверхности полупроводниковой hemt-структуры методом атомно-силовой микроскопии практикум
В пособии описаны физические принципы работы атомно-силового сканирующего зондового микроскопа. Изложена методика анализа топографии поверхности полупроводниковой структуры с использованием контактного способа измерений. Практикум предназначен для студентов дневного отделения магистратуры радиофизич...
में बचाया:
| मुख्य लेखक: | |
|---|---|
| अन्य लेखक: | , |
| स्वरूप: | Книга |
| भाषा: | Russian |
| प्रकाशित: |
Нижний Новгород
ННГУ им. Н. И. Лобачевского
2014
|
| ऑनलाइन पहुंच: | https://e.lanbook.com/book/152815 https://e.lanbook.com/img/cover/book/152815.jpg |
| टैग : |
टैग जोड़ें
कोई टैग नहीं, इस रिकॉर्ड को टैग करने वाले पहले व्यक्ति बनें!
|