Saltar ao contenido

Исследование характеристик диода шоттки на основе GaAs с квантовыми ямами практикум

В настоящей работе представлено описание квантовых размерных эффектов в гетеронаноструктурах GaAs/InGaAs. Рассмотрены особенности поведения диодов Шоттки на основе этих гетероструктур как фотоприемников излучения. Описаны методики измерения люксвольтовой характеристики и спектральной фото-чувствител...

Descrición completa

Gardado en:
Detalles Bibliográficos
Autor Principal: Тихов С. В.
Outros autores: Шиляев П. А.
Formato: Книга
Idioma:Russian
Publicado: Нижний Новгород ННГУ им. Н. И. Лобачевского 2010
Acceso en liña:https://e.lanbook.com/book/153375
https://e.lanbook.com/img/cover/book/153375.jpg
Метки: Engadir etiqueta
Sen Etiquetas, Sexa o primeiro en etiquetar este rexistro!