Přeskočit na obsah

Исследование характеристик диода шоттки на основе GaAs с квантовыми ямами практикум

В настоящей работе представлено описание квантовых размерных эффектов в гетеронаноструктурах GaAs/InGaAs. Рассмотрены особенности поведения диодов Шоттки на основе этих гетероструктур как фотоприемников излучения. Описаны методики измерения люксвольтовой характеристики и спектральной фото-чувствител...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Тихов С. В.
Další autoři: Шиляев П. А.
Médium: Книга
Jazyk:Russian
Vydáno: Нижний Новгород ННГУ им. Н. И. Лобачевского 2010
On-line přístup:https://e.lanbook.com/book/153375
https://e.lanbook.com/img/cover/book/153375.jpg
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!