Skip to content

Исследование характеристик диода шоттки на основе GaAs с квантовыми ямами практикум

В настоящей работе представлено описание квантовых размерных эффектов в гетеронаноструктурах GaAs/InGaAs. Рассмотрены особенности поведения диодов Шоттки на основе этих гетероструктур как фотоприемников излучения. Описаны методики измерения люксвольтовой характеристики и спектральной фото-чувствител...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Main Author: Тихов С. В.
Other Authors: Шиляев П. А.
Format: Книга
Language:Russian
Published: Нижний Новгород ННГУ им. Н. И. Лобачевского 2010
Online Access:https://e.lanbook.com/book/153375
https://e.lanbook.com/img/cover/book/153375.jpg
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!