Saltar al contenido

Исследование характеристик диода шоттки на основе GaAs с квантовыми ямами практикум

В настоящей работе представлено описание квантовых размерных эффектов в гетеронаноструктурах GaAs/InGaAs. Рассмотрены особенности поведения диодов Шоттки на основе этих гетероструктур как фотоприемников излучения. Описаны методики измерения люксвольтовой характеристики и спектральной фото-чувствител...

Descripción completa

Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Autor principal: Тихов С. В.
Otros Autores: Шиляев П. А.
Formato: Книга
Lenguaje:Russian
Publicado: Нижний Новгород ННГУ им. Н. И. Лобачевского 2010
Acceso en línea:https://e.lanbook.com/book/153375
https://e.lanbook.com/img/cover/book/153375.jpg
Etiquetas: Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!