Пропуск в контексте

Локальная диагностика состава полупроводниковых наносистем методом сканирующей оже-микроскопии учебно-методическое пособие

Рассматриваются физические основы методов электронной ожеспектроскопии, сканирующей оже-микроскопии и принципы работы растрового электронного микроскопа. Описана методика исследования морфологии поверхности и состава полупроводниковых наноструктур с нанометровым разрешением. Приведены данные анализа...

Полное описание

Сохранить в:
Библиографические подробности
Главный автор: Николичев Д. Е.
Другие авторы: Боряков А. В.
Формат: Книга
Язык:Russian
Опубликовано: Нижний Новгород ННГУ им. Н. И. Лобачевского 2011
Online-ссылка:https://e.lanbook.com/book/153530
https://e.lanbook.com/img/cover/book/153530.jpg
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
LEADER 02852nam0a2200277 i 4500
001 153530
003 RuSpLAN
005 20221220174104.0
008 221220s2011 ru gs 000 0 rus
040 |a RuSpLAN 
041 0 |a rus 
044 |a ru 
080 |a 543.428.2:539.25 
084 |a В.344в7  |2 rubbk 
245 0 0 |a Локальная диагностика состава полупроводниковых наносистем методом сканирующей оже-микроскопии  |b учебно-методическое пособие  |c Николичев Д. Е.,Боряков А. В. 
260 |a Нижний Новгород  |b ННГУ им. Н. И. Лобачевского  |c 2011 
300 |a 110 с. 
500 |a Рекомендовано методической комиссией физического факультета для студентов ННГУ, обучающимся по направлениям 210600 – "Нанотехнология в электронике" 210100 – "Электроника и микроэлектроника" 
504 |a Библиогр.: доступна в карточке книги, на сайте ЭБС Лань 
520 8 |a Рассматриваются физические основы методов электронной ожеспектроскопии, сканирующей оже-микроскопии и принципы работы растрового электронного микроскопа. Описана методика исследования морфологии поверхности и состава полупроводниковых наноструктур с нанометровым разрешением. Приведены данные анализа состава самоорганизованных кремний-германиевых систем и тонкопленочных структур разбавленных магнитных полупроводников. Для студентов старших курсов и магистратуры физического факультета, обучающихся по специальностям 210600 – "Нанотехнология в электронике" и 210100 – "Электроника и микроэлектроника", направление специализации — "Физика твердотельных наноструктур" 
521 8 |a Книга из коллекции ННГУ им. Н. И. Лобачевского - Инженерно-технические науки 
100 1 |a Николичев Д. Е. 
700 1 |a Боряков А. В. 
856 4 |u https://e.lanbook.com/book/153530 
856 4 8 |u https://e.lanbook.com/img/cover/book/153530.jpg 
953 |a https://e.lanbook.com/img/cover/book/153530.jpg