Фрактальные закономерности и модельные представления процессов переключения поляризации сегнетоэлектриков при диагностике методами растровой электронной микроскопии
В монографии представлены результаты развития многоаспектного подхода к изучению самоподобной динамики сегнетоэлектрических доменных структур при исследовании методами растровой электронной микроскопии. Представлены оценки скейлинговых характеристик геометрии статических и динамических доменных конф...
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Барабаш Т. К. |
---|---|
مؤلفون آخرون: | Масловская А. Г. |
التنسيق: | Книга |
اللغة: | Russian |
منشور في: |
Благовещенск
АмГУ
2016
|
الوصول للمادة أونلاين: | https://e.lanbook.com/book/156556 https://e.lanbook.com/img/cover/book/156556.jpg |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Фрактальные закономерности и модельные представления процессов переключения поляризации сегнетоэлектриков при диагностике методами растровой электронной микроскопии
بواسطة: Барабаш, Т. К. -
Исследование наноструктурированных материалов методом растровой электронной микроскопии учебно-методическое пособие для вузов
منشور في: (2014) -
Методы электронной микроскопии учебное пособие
بواسطة: Филимонова Н. И.
منشور في: (2016) -
Методы электронной микроскопии учебное пособие
بواسطة: Филимонова, Н. И. -
Основы электронной микроскопии учебно-методическое пособие
بواسطة: Морозова, К. Н.