Фрактальные закономерности и модельные представления процессов переключения поляризации сегнетоэлектриков при диагностике методами растровой электронной микроскопии
В монографии представлены результаты развития многоаспектного подхода к изучению самоподобной динамики сегнетоэлектрических доменных структур при исследовании методами растровой электронной микроскопии. Представлены оценки скейлинговых характеристик геометрии статических и динамических доменных конф...
Guardat en:
Autor principal: | Барабаш Т. К. |
---|---|
Altres autors: | Масловская А. Г. |
Format: | Книга |
Idioma: | Russian |
Publicat: |
Благовещенск
АмГУ
2016
|
Accés en línia: | https://e.lanbook.com/book/156556 https://e.lanbook.com/img/cover/book/156556.jpg |
Etiquetes: |
Afegir etiqueta
Sense etiquetes, Sigues el primer a etiquetar aquest registre!
|
Ítems similars
-
Фрактальные закономерности и модельные представления процессов переключения поляризации сегнетоэлектриков при диагностике методами растровой электронной микроскопии
per: Барабаш, Т. К. -
Исследование наноструктурированных материалов методом растровой электронной микроскопии учебно-методическое пособие для вузов
Publicat: (2014) -
Методы электронной микроскопии учебное пособие
per: Филимонова Н. И.
Publicat: (2016) -
Методы электронной микроскопии учебное пособие
per: Филимонова, Н. И. -
Основы электронной микроскопии учебно-методическое пособие
per: Морозова, К. Н.