Фрактальные закономерности и модельные представления процессов переключения поляризации сегнетоэлектриков при диагностике методами растровой электронной микроскопии
В монографии представлены результаты развития многоаспектного подхода к изучению самоподобной динамики сегнетоэлектрических доменных структур при исследовании методами растровой электронной микроскопии. Представлены оценки скейлинговых характеристик геометрии статических и динамических доменных конф...
保存先:
第一著者: | Барабаш Т. К. |
---|---|
その他の著者: | Масловская А. Г. |
フォーマット: | Книга |
言語: | Russian |
出版事項: |
Благовещенск
АмГУ
2016
|
オンライン・アクセス: | https://e.lanbook.com/book/156556 https://e.lanbook.com/img/cover/book/156556.jpg |
タグ: |
タグ追加
タグなし, このレコードへの初めてのタグを付けませんか!
|
類似資料
-
Фрактальные закономерности и модельные представления процессов переключения поляризации сегнетоэлектриков при диагностике методами растровой электронной микроскопии
著者:: Барабаш, Т. К. -
Исследование наноструктурированных материалов методом растровой электронной микроскопии учебно-методическое пособие для вузов
出版事項: (2014) -
Методы электронной микроскопии учебное пособие
著者:: Филимонова Н. И.
出版事項: (2016) -
Методы электронной микроскопии учебное пособие
著者:: Филимонова, Н. И. -
Основы электронной микроскопии учебно-методическое пособие
著者:: Морозова, К. Н.