Фрактальные закономерности и модельные представления процессов переключения поляризации сегнетоэлектриков при диагностике методами растровой электронной микроскопии
В монографии представлены результаты развития многоаспектного подхода к изучению самоподобной динамики сегнетоэлектрических доменных структур при исследовании методами растровой электронной микроскопии. Представлены оценки скейлинговых характеристик геометрии статических и динамических доменных конф...
Сохранить в:
主要作者: | Барабаш Т. К. |
---|---|
其他作者: | Масловская А. Г. |
格式: | Книга |
語言: | Russian |
出版: |
Благовещенск
АмГУ
2016
|
在線閱讀: | https://e.lanbook.com/book/156556 https://e.lanbook.com/img/cover/book/156556.jpg |
標簽: |
添加標簽
沒有標簽, 成為第一個標記此記錄!
|
相似書籍
-
Фрактальные закономерности и модельные представления процессов переключения поляризации сегнетоэлектриков при диагностике методами растровой электронной микроскопии
由: Барабаш, Т. К. -
Исследование наноструктурированных материалов методом растровой электронной микроскопии учебно-методическое пособие для вузов
出版: (2014) -
Методы электронной микроскопии учебное пособие
由: Филимонова Н. И.
出版: (2016) -
Методы электронной микроскопии учебное пособие
由: Филимонова, Н. И. -
Основы электронной микроскопии учебно-методическое пособие
由: Морозова, К. Н.