Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий
В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупровод...
Kaydedildi:
| Yazar: | |
|---|---|
| Diğer Yazarlar: | |
| Materyal Türü: | Книга |
| Dil: | Russian |
| Baskı/Yayın Bilgisi: |
Ульяновск
УлГТУ
2020
|
| Edisyon: | 3-е изд., доп. и перераб. |
| Online Erişim: | https://e.lanbook.com/book/170654 https://e.lanbook.com/img/cover/book/170654.jpg |
| Etiketler: |
Etiketle
Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!
|
| Özet: | В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупроводниковых изделий по уровню надежности. Рассчитана на специалистов электронной и радиоэлектронной отраслей промышленности, а также на студентов и аспирантов соответствующих специальностей. |
|---|---|
| Fiziksel Özellikler: | 470 с. |
| İzleyiciler: | Книга из коллекции УлГТУ - Инженерно-технические науки |
| Bibliyografya: | Библиогр.: доступна в карточке книги, на сайте ЭБС Лань |