Weiter zum Inhalt

Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий

В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупровод...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Горлов М. И.
Weitere Verfasser: Сергеев В. А.
Format: Книга
Sprache:Russian
Veröffentlicht: Ульяновск УлГТУ 2020
Ausgabe:3-е изд., доп. и перераб.
Online Zugang:https://e.lanbook.com/book/170654
https://e.lanbook.com/img/cover/book/170654.jpg
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!