Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий
В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупровод...
Saved in:
Main Author: | |
---|---|
Other Authors: | |
Format: | Книга |
Language: | Russian |
Published: |
Ульяновск
УлГТУ
2020
|
Edition: | 3-е изд., доп. и перераб. |
Online Access: | https://e.lanbook.com/book/170654 https://e.lanbook.com/img/cover/book/170654.jpg |
Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|