Skip to content

Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий

В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупровод...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Main Author: Горлов М. И.
Other Authors: Сергеев В. А.
Format: Книга
Language:Russian
Published: Ульяновск УлГТУ 2020
Edition:3-е изд., доп. и перераб.
Online Access:https://e.lanbook.com/book/170654
https://e.lanbook.com/img/cover/book/170654.jpg
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!