Joan edukira

Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий

В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупровод...

Deskribapen osoa

Gorde:
Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Горлов М. И.
Beste egile batzuk: Сергеев В. А.
Formatua: Книга
Hizkuntza:Russian
Argitaratua: Ульяновск УлГТУ 2020
Edizioa:3-е изд., доп. и перераб.
Sarrera elektronikoa:https://e.lanbook.com/book/170654
https://e.lanbook.com/img/cover/book/170654.jpg
Etiketak: Etiketa erantsi
Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!