Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий
В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупровод...
Enregistré dans:
Auteur principal: | |
---|---|
Autres auteurs: | |
Format: | Книга |
Langue: | Russian |
Publié: |
Ульяновск
УлГТУ
2020
|
Édition: | 3-е изд., доп. и перераб. |
Accès en ligne: | https://e.lanbook.com/book/170654 https://e.lanbook.com/img/cover/book/170654.jpg |
Tags: |
Ajouter un tag
Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!
|