Preskoči na sadržaj

Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий

В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупровод...

Cijeli opis

Spremljeno u:
Bibliografski detalji
Glavni autor: Горлов М. И.
Daljnji autori: Сергеев В. А.
Format: Книга
Jezik:Russian
Izdano: Ульяновск УлГТУ 2020
Izdanje:3-е изд., доп. и перераб.
Online pristup:https://e.lanbook.com/book/170654
https://e.lanbook.com/img/cover/book/170654.jpg
Oznake: Dodaj oznaku
Bez oznaka, Budi prvi tko označuje ovaj zapis!