Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий
В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупровод...
Spremljeno u:
Glavni autor: | |
---|---|
Daljnji autori: | |
Format: | Книга |
Jezik: | Russian |
Izdano: |
Ульяновск
УлГТУ
2020
|
Izdanje: | 3-е изд., доп. и перераб. |
Online pristup: | https://e.lanbook.com/book/170654 https://e.lanbook.com/img/cover/book/170654.jpg |
Oznake: |
Dodaj oznaku
Bez oznaka, Budi prvi tko označuje ovaj zapis!
|