Przejdź do treści

Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий

В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупровод...

Szczegółowa specyfikacja

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
1. autor: Горлов М. И.
Kolejni autorzy: Сергеев В. А.
Format: Книга
Język:Russian
Wydane: Ульяновск УлГТУ 2020
Wydanie:3-е изд., доп. и перераб.
Dostęp online:https://e.lanbook.com/book/170654
https://e.lanbook.com/img/cover/book/170654.jpg
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!