Pular para o conteúdo

Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий

В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупровод...

ver descrição completa

Na minha lista:
Detalhes bibliográficos
Autor principal: Горлов М. И.
Outros Autores: Сергеев В. А.
Formato: Книга
Idioma:Russian
Publicado em: Ульяновск УлГТУ 2020
Edição:3-е изд., доп. и перераб.
Acesso em linha:https://e.lanbook.com/book/170654
https://e.lanbook.com/img/cover/book/170654.jpg
Tags: Adicionar Tag
Sem tags, seja o primeiro a adicionar uma tag!