Hoppa till innehåll

Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий

В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупровод...

Full beskrivning

Sparad:
Bibliografiska uppgifter
Huvudupphovsman: Горлов М. И.
Övriga upphovsmän: Сергеев В. А.
Materialtyp: Книга
Språk:Russian
Publicerad: Ульяновск УлГТУ 2020
Upplaga:3-е изд., доп. и перераб.
Länkar:https://e.lanbook.com/book/170654
https://e.lanbook.com/img/cover/book/170654.jpg
Taggar: Lägg till en tagg
Inga taggar, Lägg till första taggen!