Пропуск в контексте

Диагностика полупроводниковых источников излучения учебное пособие

В пособии рассмотрены физические основы и принципы работы полупроводниковых источников излучения, их основные параметры и характеристики, определены требования к их качеству и надежности. Описаны наиболее распространенные и эффективные методы и средства неразрушающей диагностики светодиодов и полупр...

תיאור מלא

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Сергеев В. А.
מחברים אחרים: Фролов И. В., Радаев О. А.
פורמט: Книга
שפה:Russian
יצא לאור: Ульяновск УлГТУ 2022
גישה מקוונת:https://e.lanbook.com/book/259718
https://e.lanbook.com/img/cover/book/259718.jpg
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
תיאור
סיכום:В пособии рассмотрены физические основы и принципы работы полупроводниковых источников излучения, их основные параметры и характеристики, определены требования к их качеству и надежности. Описаны наиболее распространенные и эффективные методы и средства неразрушающей диагностики светодиодов и полупроводниковых лазеров. Приведены результаты апробации описанных методов и средств на серийных изделиях. Пособие предназначено для студентов и аспирантов высших учебных заведений специальностей и направлений «Радиотехника» и «Проектирование и технология радиоэлектронных средств», специализирующихся в области опто- и наноэлектроники, а также может быть полезным специалистам научно-производственных предприятий и научных организаций.
תיאור פיזי:95 с.
קהל:Книга из коллекции УлГТУ - Инженерно-технические науки
ביבליוגרפיה:Библиогр.: доступна в карточке книги, на сайте ЭБС Лань
ISBN:978-5-9795-2190-9