Пропуск в контексте

Методы и возможности in-line контроля тонкопленочных материалов в производстве субмикронных интегральных микросхем учебное пособие

Пособие составлено на базе 40-летнего личного опыта работы автора на отечественных и зарубежных предприятиях микроэлектронной отрасли. Рассмотрена совокупность вопросов организации и использования в серийном производстве субмикронных интегральных микросхем (ИМС) методов непосредственного производств...

Popoln opis

Shranjeno v:
Bibliografske podrobnosti
Glavni avtor: Васильев В. Ю.
Format: Книга
Jezik:Russian
Izdano: Новосибирск НГТУ 2023
Online dostop:https://e.lanbook.com/book/404429
https://e.lanbook.com/img/cover/book/404429.jpg
Oznake: Označite
Brez oznak, prvi označite!