Пропуск в контексте

Методы и возможности in-line контроля тонкопленочных материалов в производстве субмикронных интегральных микросхем учебное пособие

Пособие составлено на базе 40-летнего личного опыта работы автора на отечественных и зарубежных предприятиях микроэлектронной отрасли. Рассмотрена совокупность вопросов организации и использования в серийном производстве субмикронных интегральных микросхем (ИМС) методов непосредственного производств...

Полное описание

Сохранить в:
Библиографические подробности
Главный автор: Васильев В. Ю.
Формат: Книга
Язык:Russian
Опубликовано: Новосибирск НГТУ 2023
Online-ссылка:https://e.lanbook.com/book/404429
https://e.lanbook.com/img/cover/book/404429.jpg
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!