Saltar al contenido

Методы и возможности in-line контроля тонкопленочных материалов в производстве субмикронных интегральных микросхем учебное пособие

Пособие составлено на базе 40-летнего личного опыта работы автора на отечественных и зарубежных предприятиях микроэлектронной отрасли. Рассмотрена совокупность вопросов организации и использования в серийном производстве субмикронных интегральных микросхем (ИМС) методов непосредственного производств...

Descripción completa

Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Autor principal: Васильев В. Ю.
Formato: Книга
Lenguaje:Russian
Publicado: Новосибирск НГТУ 2023
Acceso en línea:https://e.lanbook.com/book/404429
https://e.lanbook.com/img/cover/book/404429.jpg
Etiquetas: Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!