Joan edukira

Методы и возможности in-line контроля тонкопленочных материалов в производстве субмикронных интегральных микросхем учебное пособие

Пособие составлено на базе 40-летнего личного опыта работы автора на отечественных и зарубежных предприятиях микроэлектронной отрасли. Рассмотрена совокупность вопросов организации и использования в серийном производстве субмикронных интегральных микросхем (ИМС) методов непосредственного производств...

Deskribapen osoa

Gorde:
Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Васильев В. Ю.
Formatua: Книга
Hizkuntza:Russian
Argitaratua: Новосибирск НГТУ 2023
Sarrera elektronikoa:https://e.lanbook.com/book/404429
https://e.lanbook.com/img/cover/book/404429.jpg
Etiketak: Etiketa erantsi
Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!