Aller au contenu

Методы и возможности in-line контроля тонкопленочных материалов в производстве субмикронных интегральных микросхем учебное пособие

Пособие составлено на базе 40-летнего личного опыта работы автора на отечественных и зарубежных предприятиях микроэлектронной отрасли. Рассмотрена совокупность вопросов организации и использования в серийном производстве субмикронных интегральных микросхем (ИМС) методов непосредственного производств...

Description complète

Enregistré dans:
Détails bibliographiques
Auteur principal: Васильев В. Ю.
Format: Книга
Langue:Russian
Publié: Новосибирск НГТУ 2023
Accès en ligne:https://e.lanbook.com/book/404429
https://e.lanbook.com/img/cover/book/404429.jpg
Tags: Ajouter un tag
Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!