Joan edukira

Применение атомно-силовой микроскопии в научно-исследовательской работе учебное пособие

Пособие предназначено для студентов естественно-научных факультетов университетов для теоретического и практического освоения методов атомно-силовой микроскопии (АСМ), содержит материал по использованию программного обеспечения сканирующего зондового микроскопа для анализа и статистической обработки...

Deskribapen osoa

Gorde:
Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Кузнецова Ю. В.
Formatua: Книга
Hizkuntza:Russian
Argitaratua: Тверь ТвГУ 2023
Sarrera elektronikoa:https://e.lanbook.com/book/415544
https://e.lanbook.com/img/cover/book/415544.jpg
Etiketak: Etiketa erantsi
Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!