Пропуск в контексте

Испытания микропроцессорных токовых защит: теория, моделирование, практика

В монографии рассматриваются вопросы теории, математического моделирования, практических приемов испытаний микропроцессорных токовых защит и их моделей с помощью испытательных установок и компьютерных программных комплексов. Монография рассчитана на научных сотрудников и инженерно-технический персон...

Полное описание

Сохранить в:
Библиографические подробности
Главный автор: Новаш И. В.
Другие авторы: Романюк Ф. А., Румянцев В. Ю., Румянцев Ю. В.
Формат: Книга
Язык:Russian
Опубликовано: Минск БНТУ 2021
Online-ссылка:https://e.lanbook.com/book/421832
https://e.lanbook.com/img/cover/book/421832.jpg
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!