Joan edukira

Основы сканирующей зондовой микроскопии: метод. указания

Цикл лабораторных работ «Основы сканирующей зондовой микроскопии» включает 6 работ, с применением современных методов исследования поверхности: туннельной и атомно-силовой микроскопии...

Deskribapen osoa

Gorde:
Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Корнилов В. М.
Beste egile batzuk: Галиев А. Ф.
Formatua: Книга
Hizkuntza:Russian
Argitaratua: Уфа БГПУ имени М. Акмуллы 2011
Sarrera elektronikoa:http://e.lanbook.com/books/element.php?pl1_id=43260
https://e.lanbook.com/img/cover/book/43260.jpg
Etiketak: Etiketa erantsi
Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!