Основы диагностики полупроводниковых структур учебное пособие

Основы диагностики полупроводниковых структур учебное пособие

Учебное пособие включает в себя 8 лабораторных работ по курсу «Методы анализа и диагностики полупроводниковых структур». Пособие предназначено для студентов направлений «Физика», «Радиофизика», «Наноинженерия»....

Uloženo v:

Podrobná bibliografie
Hlavní autor:	Вострецов Д. Я.
Další autoři:	Вострецова Л. Н., Богданова Д. А., Соловьев А. А., Иго А. В.
Médium:	Книга
Jazyk:	Russian
Vydáno:	Ульяновск УлГУ 2018
Témata:	измерение параметров полупроводниковых приборов интегральных микросхем времени жизни неравновесных носителей тока заряда полупроводниках метод модуляции проводимости точечного контакта характеристик транзистора схеме с общей базой статических характеристик схеме с общим эмиттером диодов шоттки вольт-фарадных характеристик структур металл диэлектрик полупроводник электрофизических параметров механизмов протекания тока r-n-переход при высоком уровне инжекции
On-line přístup:	https://e.lanbook.com/book/450368 https://e.lanbook.com/img/cover/book/450368.jpg
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!

Popis
Shrnutí:	Учебное пособие включает в себя 8 лабораторных работ по курсу «Методы анализа и диагностики полупроводниковых структур». Пособие предназначено для студентов направлений «Физика», «Радиофизика», «Наноинженерия».
Fyzický popis:	132 с.
Uživatelské určení:	Книга из коллекции УлГУ - Физика СЭБ
Bibliografie:	Библиогр.: доступна в карточке книги, на сайте ЭБС Лань