Пропуск в контексте

Исследование особенностей атомного и электронно- энергетического строения металлов, полупроводников и диэлектриков учебно-методическое пособие

Рассмотрены основные методы исследования атомного и электронно- энергетического строения твердых тел (металлов, полупроводников, диэлектриков), широко применяемые в лабораторных и производственных условиях. Основное внимание уделено вопросам определения фазового состава и размеров кристаллитов, опре...

Полное описание

Сохранить в:
Библиографические подробности
Формат: Книга
Язык:Russian
Опубликовано: Воронеж ВГУ 2021
Темы:
Online-ссылка:https://e.lanbook.com/book/454715
https://e.lanbook.com/img/cover/book/454715.jpg
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
LEADER 03500nam0a2200445 i 4500
001 454715
003 RuSpLAN
005 20250516154059.0
008 250516s2021 ru gs 000 0 rus
040 |a RuSpLAN 
041 0 |a rus 
044 |a ru 
080 |a 537.86(075) 
084 |a 385я73  |2 rubbk 
245 0 0 |a Исследование особенностей атомного и электронно- энергетического строения металлов, полупроводников и диэлектриков  |b учебно-методическое пособие 
260 |a Воронеж  |b ВГУ  |c 2021 
300 |a 63 с. 
504 |a Библиогр.: доступна в карточке книги, на сайте ЭБС Лань 
520 8 |a Рассмотрены основные методы исследования атомного и электронно- энергетического строения твердых тел (металлов, полупроводников, диэлектриков), широко применяемые в лабораторных и производственных условиях. Основное внимание уделено вопросам определения фазового состава и размеров кристаллитов, определения параметров кристаллической решетки полупроводниковых твердых растворов, элементного состава и электронно-энергетического строения твердотельных материалов и т. п. Для студентов, изучающих дисциплины «Физика конденсированного состояния» и «Физические основы электроники» и обучающихся по направлению 11.03.04 – «Электроника и наноэлектроника», профиль «Интегральная электроника и наноэлектроника»; «Физика полупроводников и диэлектриков» и обучающихся по направлению 03.03.02 – Физика, профиль «Физика твердого тела». 
521 8 |a Книга из коллекции ВГУ - Инженерно-технические науки 
521 8 |a СЭБ 
653 0 |a фазовый состав 
653 0 |a твердые тела 
653 0 |a рентгенодифрактометрический метод 
653 0 |a размеры кристаллитов 
653 0 |a дифракционная картина 
653 0 |a параметры решетки 
653 0 |a твердые растворы 
653 0 |a закон вегарда 
653 0 |a элементный состав 
653 0 |a рентгенофлуоресцентный метод 
653 0 |a энергетический спектр 
653 0 |a валентные электроны 
653 0 |a рентгеновская эмиссионная спектроскопия 
653 0 |a оптические исследования 
653 0 |a зонная структура 
653 0 |a полупроводники 
856 4 |u https://e.lanbook.com/book/454715 
856 4 8 |u https://e.lanbook.com/img/cover/book/454715.jpg 
953 |a https://e.lanbook.com/img/cover/book/454715.jpg