Исследование наноразмерных пленок AlN методом АСМ
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Кузнецова, Е. А. |
---|---|
التنسيق: | ВКР |
اللغة: | Russian |
منشور في: |
2018
|
الوصول للمادة أونلاين: | https://dspace.ncfu.ru:443/handle/20.500.12258/2328 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Исследование наноразмерных пленок AlN методом АСМ
بواسطة: Кузнецова, Е. А.
منشور في: (2018) -
Ion-beam deposition of thin AlN films on Al2O3 substrate
بواسطة: Devitsky, O. V., وآخرون
منشور في: (2020) -
Growing oriented AlN films on sapphire substrates by plasma-enhanced atomic layer deposition
بواسطة: Tarala, V. A., وآخرون
منشور في: (2018) -
Growing oriented AlN films on sapphire substrates by plasma-enhanced atomic layer deposition
بواسطة: Tarala, V. A., وآخرون
منشور في: (2018) -
Schotky barrier height and calculation of voltage–current characteristics of Al/n-(SiC)1–x(AlN)x diodes And 4H–SiC heterojunctions
بواسطة: Altukhov, V. I., وآخرون
منشور في: (2020)