Исследование наноразмерных пленок AlN методом АСМ
সংরক্ষণ করুন:
প্রধান লেখক: | Кузнецова, Е. А. |
---|---|
বিন্যাস: | ВКР |
ভাষা: | Russian |
প্রকাশিত: |
2018
|
অনলাইন ব্যবহার করুন: | https://dspace.ncfu.ru:443/handle/20.500.12258/2328 |
ট্যাগগুলো: |
ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!
|
অনুরূপ উপাদানগুলি
-
Исследование наноразмерных пленок AlN методом АСМ
অনুযায়ী: Кузнецова, Е. А.
প্রকাশিত: (2018) -
Ion-beam deposition of thin AlN films on Al2O3 substrate
অনুযায়ী: Devitsky, O. V., অন্যান্য
প্রকাশিত: (2020) -
Growing oriented AlN films on sapphire substrates by plasma-enhanced atomic layer deposition
অনুযায়ী: Tarala, V. A., অন্যান্য
প্রকাশিত: (2018) -
Growing oriented AlN films on sapphire substrates by plasma-enhanced atomic layer deposition
অনুযায়ী: Tarala, V. A., অন্যান্য
প্রকাশিত: (2018) -
Schotky barrier height and calculation of voltage–current characteristics of Al/n-(SiC)1–x(AlN)x diodes And 4H–SiC heterojunctions
অনুযায়ী: Altukhov, V. I., অন্যান্য
প্রকাশিত: (2020)