Исследование наноразмерных пленок AlN методом АСМ
Αποθηκεύτηκε σε:
Κύριος συγγραφέας: | Кузнецова, Е. А. |
---|---|
Μορφή: | ВКР |
Γλώσσα: | Russian |
Έκδοση: |
2018
|
Διαθέσιμο Online: | https://dspace.ncfu.ru:443/handle/20.500.12258/2328 |
Ετικέτες: |
Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|
Παρόμοια τεκμήρια
-
Исследование наноразмерных пленок AlN методом АСМ
ανά: Кузнецова, Е. А.
Έκδοση: (2018) -
Ion-beam deposition of thin AlN films on Al2O3 substrate
ανά: Devitsky, O. V., κ.ά.
Έκδοση: (2020) -
Growing oriented AlN films on sapphire substrates by plasma-enhanced atomic layer deposition
ανά: Tarala, V. A., κ.ά.
Έκδοση: (2018) -
Growing oriented AlN films on sapphire substrates by plasma-enhanced atomic layer deposition
ανά: Tarala, V. A., κ.ά.
Έκδοση: (2018) -
Schotky barrier height and calculation of voltage–current characteristics of Al/n-(SiC)1–x(AlN)x diodes And 4H–SiC heterojunctions
ανά: Altukhov, V. I., κ.ά.
Έκδοση: (2020)