Исследование наноразмерных пленок AlN методом АСМ
שמור ב:
מחבר ראשי: | Кузнецова, Е. А. |
---|---|
פורמט: | ВКР |
שפה: | Russian |
יצא לאור: |
2018
|
גישה מקוונת: | https://dspace.ncfu.ru:443/handle/20.500.12258/2328 |
תגים: |
הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|
פריטים דומים
-
Исследование наноразмерных пленок AlN методом АСМ
מאת: Кузнецова, Е. А.
יצא לאור: (2018) -
Ion-beam deposition of thin AlN films on Al2O3 substrate
מאת: Devitsky, O. V., и др.
יצא לאור: (2020) -
Growing oriented AlN films on sapphire substrates by plasma-enhanced atomic layer deposition
מאת: Tarala, V. A., и др.
יצא לאור: (2018) -
Growing oriented AlN films on sapphire substrates by plasma-enhanced atomic layer deposition
מאת: Tarala, V. A., и др.
יצא לאור: (2018) -
Schotky barrier height and calculation of voltage–current characteristics of Al/n-(SiC)1–x(AlN)x diodes And 4H–SiC heterojunctions
מאת: Altukhov, V. I., и др.
יצא לאור: (2020)